BAS ISO 18118:2025
Površinska hemijska analiza - Auger elektronska spektroskopija i fotoelektronska spektroskopija X zracima - Smjernice za upotrebu eksperimentalno određenih faktora relativne osjetljivosti za kvantitativnu analizu homogenosti materijala
Opšte informacije
Status: Važeći
Broj strana: 26
Jezik: Engleski
Izdanje: 3.
Metoda usvajanja: Korice
Datum objave: 23.05.2025
Tehnički komitet:
...
Apstrakt
This document gives guidance on the measurement and use of experimentally-determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials by Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. The methods described only apply to polycrystalline and amorphous materials, as effects inherent to single-crystal samples are not addressed.
Životni ciklus
...
Izvorni dokument i stepen usklađenosti
- ISO 18118:2024, identičan