Prikazano 1-20 od 23 stavki.
| Oznaka standarda | Faza izrade | BAS/TC | Datum realizacije | Predviđeni datum naredne faze |
|---|---|---|---|---|
| pnBAS CEN/TR 18010:2025 Hemijski dezinficijensi i antiseptici – Informacije o pripremi spora i određivanje/isključivanje sporistatičke aktivnosti | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS EN 13697:2025 Hemijski dezinficijensi i antiseptici – Kvantitativni test na neporoznoj površini za određivanje baktericidne i kvasne i/ili fungicidne aktivnosti hemijskih dezinficijenasa koji se upotrebljavaju u hrani, industriji, domaćinstvima i javnim ustanovama bez mehaničkog djelovanja - Metoda ispitivanja i zahtjevi bez mehaničkog djelovanja (faza 2, korak 2) | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS EN 17430:2025 Hemijski dezinficijensi i antiseptici – Sredstvo za higijensko utrljavanje u ruke s virucidnim djelovanjem - Metoda ispitivanja i zahtjevi (faza 2, korak 2) | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS EN 17846:2025 Hemijski dezinficijensi i antiseptici – Kvantitativni metoda ispitivanja za procjenu sporicidne aktivnosti protiv Clostridioides na neporoznim površinama, s mehaničkim djelovanjem korištenjem maramica, a koji se upotrebljavaju u oblasti medicine(ispitivanje na 4 zone) - Metoda ispitivanja i zahtjevi (faza 2, korak 2) | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 14427:2025 Karbonizirani materijali koji se koriste u proizvodnji aluminija – Hladne i mlake paste za sabijanje – Priprema nepečenih ispitnih uzoraka i određivanje prividne gustoće nakon sabijanja | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 14606:2025 Površinska hemijska analiza – Dubinsko profiliranje raspršivanjem – Optimizacija pomoću višeslojnih sistema kao referentnih materijala | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 17109:2025 Površinska hemijska analiza - Dubinsko profiliranje - Metoda određivanja brzine raspršivanja u fotoelektronskoj spektroskopiji X-zracima, Auger elektronskoj spektroskopiji i masenoj spektroskopiji sekundarnih iona profiliranje dubine raspršivanja pojedinačnih i višeslojnih tankih filmova | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 17544:2025 Karbonizirani materijali koji se koriste u proizvodnji aluminija – Hladne i mlake paste za sabijanje – Određivanje nepropusnosti nepečenih pasti | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 17862:2025 Površinske hemijske analize – Masena spektrometrija sekundarnih jona - Linearnost intenziteta skale od pojediničnog brojanja jona i vremena prolaska analita | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 17973:2025 Površinska hemijska analiza –Augerovi elektronski spektrometri srednje rezolucije – Kalibracija energetske skale za elementarnu analizu | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 18115-1:2025 Površinske hemijske analize – Rječnik – Dio 1: Opći pojmovi i pojmovi korišteni u spektroskopiji | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 18115-2:2025 Površinske hemijske analize – Rječnik – Dio 2: Termini korišteni u mikroskopiji skenirajućom sondom | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 18115-3:2025 Površinske hemijske analize – Rječnik – Dio 3: Termini korišteni u optičkoj interfejs analizi | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 18118:2025 Površinska hemijska analiza - Auger elektronska spektroskopija i fotoelektronska spektroskopija X zracima - Smjernice za upotrebu eksperimentalno određenih faktora relativne osjetljivosti za kvantitativnu analizu homogenosti materijala | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 20579-1:2025 Površinska hemijska analiza – Rukovanje uzorcima, priprema i formiranje – Dio 1: Dokumentovanje i izvještavanje o rukovanju uzorcima prije analize | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 23124:2025 Površinska hemijska analiza – Mjerenje lateralne i aksijalne rezolucije Ramanovim mikroskopom | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 23170:2025 Površinska hemijska analiza - Dubinsko profiliranje - Nedestruktivno dubinsko profiliranje tankih filmova oksida teških metala u nanorazmjeru na Si supstratima s raspršenjem iona srednje energije | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 23729:2025 Površinska hemijska analiza - Mikroskopija atomskih sila – Smjernice za proceduru obnove snimaka dobijenih pomoću mikroskopije atomskih sila, proširene određenom veličinom sonde | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 24417:2025 Površinska hemijska analiza – Analiza metalnih nanoslojeva na podlogama na bazi željeza optičkom emisionom spektrometrijom sa tinjajućim pražnjenjem | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |
| pnBAS ISO 5861:2025 Površinska hemijska analiza – Fotoelektronska spektroskopija X zracima – Metoda kalibracije intenziteta za kvarcno-kristalne monohromatske Al Kα XPS instrumente | 30.20 | BAS/TC 49 | 04.03.2025 | 13.03.2025 |